《半导体激光器模组远场图像检测方法及装置》

技术简介：

本申请涉及半导体激光器测试技术领域,公开了一种半导体激光器模组远场图像检测方法及装置。所述方法利用相机拍摄半导体激光器模组发出的光束在透视膜上的成像,获得灰度图像；对所述灰度图像进行矫正、裁剪处理,获得目标图像；确定所述目标图像中每个像素的像素信息,并根据所述像素信息确定所述目标图像的质心位置；根据所述质心位置和所述目标图像的大小,确定目标切线；然后,计算所述目标图像上每个宫格内的均匀度,以及计算每条目标切线上的均一度。本申请实施例中可以每个宫格内的均匀度和每条切线的均一度确定所述半导体激光器模组发出的光束的质量,以确定判断半导体激光器模组的性能。

研发人员：杨长春;张力维;孟天霜;王彭