《瓷绝缘子表面开裂缺陷识别方法、系统及计算机可读介质》

技术简介：

本发明涉及图像技术领域,尤其涉及瓷绝缘子表面开裂缺陷识别方法、系统及计算机可读介质,包括采集瓷绝缘子表面缺陷图像；对瓷绝缘子缺陷图像进行标准化和归一化处理；利用DCN-bifpn模块改进YOLOV5s网络,并对缺陷数据进行检测和识别；利用DCN-C3ECA模块改进YOLOV5s网络,将neck层的三个C3模块替换为DCN-C3ECA模块。本发明解决现有方法识别瓷绝缘子出现长条状缺陷检测准确性不高的问题。

研发人员：吕继东;周润杰;丁慎平;牛亮亮;邹凌;戎海龙