《基于低秩稀疏矩阵分解的纺织品瑕疵检测方法》

技术简介：

本发明涉及纺织品检测技术领域,尤其是基于低秩稀疏矩阵分解的纺织品瑕疵检测方法,该检测方法包括以下步骤,首先根据周期信息对周期性纺织品进行分块,获取瑕疵先验,用于指导低秩分解模型,然后加入拉普拉斯正则化以增加背景与缺陷区域之间的距离；最后,采用最优阈值分割算法对生成的稀疏矩阵进行分割,完成缺陷检测；本发明提供了一种基于低秩稀疏矩阵分解的纺织品检测方法,通过块分割法确定瑕疵先验,加入到低秩分解模型中,构建权重的低秩分解模型,增加了对较大瑕疵块的检测精度,通过拉普拉斯正则项,增大瑕疵区域与背景之间的距离,进一步提升对瑕疵的检测精度与鲁棒性。

研发人员：梁久祯;纪旋;魏敬晨;周明智;张英丽